LJD-C型介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗(yàn)裝置

一、概述：

   介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗(yàn)裝置作為新一代的通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試儀器，測(cè)試頻率上限達(dá)到目前國(guó)內(nèi)高的160MHz.采用了多項(xiàng)先進(jìn)技術(shù)：

雙掃描技術(shù) - 測(cè)試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動(dòng)調(diào)諧搜索功能。

雙測(cè)試要素輸入 - 測(cè)試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過(guò)數(shù)字按鍵輸入。

雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧，數(shù)碼化電容調(diào)諧。

自動(dòng)化測(cè)量技術(shù) -對(duì)測(cè)試件實(shí)施 Q 值、諧振點(diǎn)頻率和電容的自動(dòng)測(cè)量。

全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調(diào)電容、電感、 Q 值、信號(hào)源頻率、諧振指針。

DDS 數(shù)字直接合成的信號(hào)源 -確保信源的高葆真，頻率的高、幅度的高穩(wěn)定。

計(jì)算機(jī)自動(dòng)修正技術(shù)和測(cè)試回路優(yōu)化 —使測(cè)試回路 殘余電感減至低， Q 讀數(shù)值在不同頻率時(shí)要加以修正的困惑。

　　LJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀的創(chuàng)新設(shè)計(jì)，無(wú)疑為高頻元器件的阻抗測(cè)量提供了*的解決方案，它給從事高頻電子設(shè)計(jì)的工程師、科研人員、高校實(shí)驗(yàn)室和電子制造業(yè)提供了更為方便的檢測(cè)工具，測(cè)量值更為，測(cè)量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點(diǎn)調(diào)諧電容值下檢測(cè)器件的品質(zhì)，無(wú)須關(guān)注量程和換算單位。

二、主要技術(shù)特性：

Q 值測(cè)量范圍:       2 ～ 1023,量程分檔：30100﹑300﹑1000，自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔

固有誤差:≤ 5 ％ ± 滿(mǎn)度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）,≤6％ ± 滿(mǎn)度值的2％（10MHz～160MHz）

工作誤差:≤7％ ± 滿(mǎn)度值的2％ （ 200kHz ～ 10MHz ）,≤8％ ± 滿(mǎn)度值的2％（10MHz～160MHz）

電感測(cè)量范圍:       4.5nH ～ 140mH

電容直接測(cè)量范圍:   1 ～ 200pF

主電容調(diào)節(jié)范圍:     18 ～ 220pF

主電容調(diào)節(jié)準(zhǔn)確度:   100pF 以下 ± 1pF;100pF 以上 ± 1 ％

信號(hào)源頻率覆蓋范圍:  100kHz ～ 160MHz

頻率分段 （ 虛擬 ）: 100 ～ 999.999kHz, 1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz,100 ～ 160MHz

頻率指示誤差        :3 × 10 -5 ± 1 個(gè)字

三、夾具工作特性

1.平板電容器：

片尺寸：Φ50mm/Φ38mm   可選

片間距可調(diào)范圍：≥15mm

2. 夾具插頭間距：25mm±0.01mm

3. 夾具損耗正切值≤4×10－4 （1MHz）

4．測(cè)微桿分辨率：0.001mm

四、配置：

主機(jī)一臺(tái)

電感九支

夾具一套

隨機(jī)文件一套

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